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AOI 設(shè)備,利用光學(xué)掃描待檢PCB,獲取清晰影像,與標(biāo)準(zhǔn)圖像模板進(jìn)行比對(duì),判斷是否存在缺陷。同時(shí)把有缺陷部位和標(biāo)準(zhǔn)圖像數(shù)據(jù)截圖,保存到本地存儲(chǔ)器中備查。
以內(nèi)層檢測(cè)為例,缺陷主要包括開路、短路、殘銅、針孔、缺口、蝕刻不凈等缺陷。
以塞孔檢測(cè)為例,缺陷主要包括堵孔、孔內(nèi)披鋒、孔內(nèi)破孔等缺陷。
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公安備案 :